固體絕緣材料體積電阻率和表麵電阻率的測量方法

固體(ti) 絕緣材料體(ti) 積電阻率和表麵電阻率的測量方法

  測量固體(ti) 絕緣材料體(ti) 積電阻率和表麵電阻率常用的方法是直接法和比較法.

  直接法是測量加在試樣上的直流電壓和流過試樣的電流而求得試樣電阻。直接法主要有檢流計法和直流放DA法；比較法主要有檢流計法和電橋法。

直接法：

1、檢流計法

2、高阻計法

  高阻計法又稱直流放DA法，它是將通過試樣的微弱電流經過放大後，推動指示儀(yi) 表，故可測量較高的絕緣電阻。

  通常在高阻計中，有數個(ge) 數量級不同的標準電阻，以適應測量不同數量級的試樣電阻的需要，被測電阻可直接讀出，高阻計法一般可測10¹⁷Ω以下的絕緣電阻。

比較法

1、檢流計法

2、電橋法

  惠斯登電橋法測量電阻的原理

惠斯登電橋測量電阻時，一般用於(yu) 測量10¹²Ω以下的電阻，並且，無法觀察電化電流隨時間變化的情形。