高低溫介電溫普儀

產(chan) 品型號：HCWP-s係列

廠商性質：生產(chan) 廠家

所在地：北京市

更新日期：2023-08-28

產(chan) 品簡介：

高低溫介電溫普儀(yi) 概述：
本高頻介電溫譜係統主要用於(yu) 絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，係統包含高溫爐膛，阻抗分析儀(yi) ，微電流表，夾具，測試軟件於(yu) 一體(ti) ，可測試材料的介電常數，介質損耗，阻抗譜 Co-Co 圖，機電耦合係數等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據產(chan) 品及測試項目要求選購。

產品特性Product characteristics

品牌	華測

高低溫介電溫普儀特點：

公司高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩(liang) 探針夾具，可與(yu) 高溫測試平台配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量係統。
溫度範圍從(cong) 室溫至 600℃、800℃、1000℃、1200℃，具備精確的 PID 控製算法，控溫精度可到±1℃，確保溫度控製不超調。提供 7 種不同控溫方式，盡可能滿足客戶多種測試需求。
高溫介電測試夾具根據標準 ASTM D150 方法，采用平行板電極原理設計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數據更加可靠。
公司開發的高溫阻抗、介電測量係統軟件將高溫測試平台、高溫測試夾具與(yu) WK6500 係列、Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron 1260 LCR 測量設備無縫連接,實現了自動完成高溫環境下的阻抗、介電參數的測量與(yu) 分析。另外，還可根據用戶提供的其他 LCR 品牌或型號完成定製需求。
軟件可根據實驗方案設計，通過測量 C 和 D 值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐(feng) 富多樣。

技術指標：

型號	HCJD-801	HCJD -802	HCJD -803	HCJD -804
溫度範圍	室溫~600℃	室溫~800℃	室溫~1000℃	室溫~1200℃
溫度精度	±1℃	±1℃	±1℃	±1℃
測量精度	0.05%	0.05%	0.05%	0.05%
升溫速率	10℃	10℃	10℃	10℃
控溫方式	PID	PID	PID	PID
頻率範圍	20HZ-30MHZ	20HZ-30MHZ	20HZ-30MHZ	20HZ-30MHZ
電極材料	鉑金	鉑金	鉑金	鉑金
通道數	通道 1	通道 1	通道 1	通道 1
測量環境	常溫真空氣氛	常溫真空氣氛	常溫真空氣氛	常溫真空氣氛
通訊方式	USB	USB	USB	USB
設備尺寸	600X400X650mm	600X400X650m	600X400X650m	600X400X650m