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基礎信息Product information
產品名稱:

鐵電薄膜材料試驗儀HCTD—800分析儀

產(chan) 品型號:

廠商性質:生產(chan) 廠家

所在地:北京市

更新日期:2024-06-07

產(chan) 品簡介:

鐵電薄膜材料試驗儀(yi) HCTD—800分析儀(yi) 適用於(yu) 鐵電薄膜、鐵電體(ti) 材料的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guan) 特性,可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。

產品特性Product characteristics
品牌華測

鐵電薄膜材料試驗儀(yi) HCTD—800

鐵電薄膜材料試驗儀(yi) HCTD—800分析儀(yi) 組成部分:

鐵電材料參數測試儀(yi) 主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發生器及正、負矩形脈衝(chong) 和雙極性雙脈衝(chong) 發生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guan) 特性測量電路構成。適用於(yu) 鐵電薄膜、鐵電體(ti) 材料的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guan) 特性,可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體(ti) 材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為(wei) 一台通用信號發生器、高壓信號發生器使用。

鐵電薄膜材料試驗儀(yi) HCTD—800分析儀(yi) 主要用途:

鐵電材料的電滯回線(動態與(yu) 靜態)、漏電流等特性。
測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。
超晶格材料在方波脈衝(chong) 電壓激勵下的自漏電特性。

鐵電薄膜測試儀(yi) 軟件功能:

HC5000係列測試係統的軟件平台hacepro,采用labview係統開發,符合導體(ti) 、半導體(ti) 材料的各項測試需求,具備穩定性與(yu) 安全性,並具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢複。兼容,XP、win7、win10係統。
友善的使用界麵
多語界麵:支持中文/英文 兩(liang) 種語言界麵;
即時監控:係統測試狀態即時瀏覽,無需等待;
圖例管理:通過軟件中的狀態圖示,一目了然,立即對狀態說明,了解測試狀態;
使用權限:可設定使用者的權限,方便管理;
故障狀態:軟件具有設備的故障報警功能。

鐵電薄膜材料試驗儀(yi) HCTD—800




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