壓電陶瓷變溫鐵電測試盒

產(chan) 品型號：HCTD—800

廠商性質：生產(chan) 廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-09-14

產(chan) 品簡介：

壓電陶瓷變溫鐵電測試盒

一、高溫鐵電測試儀(yi) 主要用途：

       鐵電材料的電滯回線（動態與(yu) 靜態）、漏電流等特性。測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。超晶格材料在方波脈衝(chong) 電壓激勵下的自漏電特性。

二、簡介：

        本測試係統用於(yu) 鐵電體(ti) 的鐵電性能測量，。本測試係統主要包括可編程信號源、微電流放大器、積分器、放大倍數可編程放大器、模/數轉換器＼數/模轉化器、微機接口部分、微機和應用軟件等部分組成。

       本測試係統采用虛地模式測量電路，與(yu) 傳(chuan) 統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅(jin) 取決(jue) 於(yu) 積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，比較容易定標和校準，並且能實現較高的測量度，它不僅(jin) 能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩餘(yu) 極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀(yi) 器采用一體(ti) 化設計，實現測試結果全數字化，操作簡單方便。

三、組成部分：

        鐵電材料參數測試儀(yi) 主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發生器及正、負矩形脈衝(chong) 和雙極性雙脈衝(chong) 發生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guan) 特性測量電路構成。適用於(yu) 鐵電薄膜、鐵電體(ti) 材料的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guan) 特性，可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值。可測鐵電體(ti) 材料的電滯回線及IV特性。同時也可作為(wei) 一台通用信號發生器、高壓信號發生器使用。