定製雙麵探針台/I-V測試/晶圓和PCB板測試

產(chan) 品型號：Huace-8D

廠商性質：生產(chan) 廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-11-01

產(chan) 品簡介：

定製雙麵探針台/I-V測試/晶圓和PCB板測試，用於(yu) 需要正麵和背麵同時紮針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。

產品特性Product characteristics

品牌	華測

雙麵探針台

雙麵點針探針台可用於(yu) 晶圓和PCB板測試，用於(yu) 需要正麵和背麵同時紮針，以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定製探針台具有優(you) 良的機械係統，穩定的結構，符合人體(ti) 工程學，以及多項升級功能。可廣泛應用於(yu) 集成電路、Wafer ， LED、LCD、太陽能電池等行業(ye) 的製造和研究領域。

技術參數型號		Huace-8D雙麵探針台
台體(ti)	chuck尺寸	8英寸
	水平旋轉	卡盤可以360度旋轉，細調精度不大於(yu) 0.1度，帶有鎖定旋鈕
	XY移動行程	*8英寸8英寸**
	XY移動精度	10um/1um可選
	樣品固定	樣品夾定，尺寸可調；真空吸附固定，卡盤多圈吸附環可獨立控製
	雙麵點針平台	氣動升降平台升起為(wei) 雙平台，落下可做單平台使用
	平台針座數量	單平台最多放置8個(ge) CB-200針座
	卡盤結構	普通/高溫/帶背電極等結構卡可選擇
溫控係統	溫度範圍	室溫~300℃ (400℃,500℃可選）
	溫控精度	0.1℃
	溫控穩定性	±1℃
	溫控傳(chuan) 感器	100Ω 鉑電阻傳(chuan) 感器
正麵光學係統	CCD	200W/500W/1200W像素可選（正反麵）
	顯微鏡類型	單筒/體(ti) 視/金相顯微鏡可選
	放大倍率	16X-100X/20X-2000X
	顯微鏡調節	*水平方向繞立柱旋轉X-Y移動22英寸，Z軸行程50.8mm**
	光源	外置LED環形光源/同軸光源
背麵光學係統	顯微鏡類型	L型單筒顯微鏡
	連續變倍比	6.3:1
	放大倍率範圍	0.75–5X
	放大倍率	*315X（計算公式：變焦CCD顯示器）*
	顯微鏡調節	萬(wan) 向移動
	光源	同軸光源

技術參數型號		台體(ti) 配件技術參數
探針座	X-Y-Z移動行程	*121212mm*
	移動精度	10/2/0.7/0.5/0.35um可選
	固定方式	磁力吸附/真空吸附可選
探針夾具	線纜	同軸線/三軸線可選
	漏電精度	10pA/100fA
	探針固定方式	彈簧固定/管狀固定
	接頭類型	BNC/三同軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子等可選
探針	材質	鎢鋼/鈹銅可選
	針尖直徑	0.2/1/2/5/10/20/50/100um可選
探針可選配件	屏蔽箱
	高壓測試配件
	光學防震桌
	射頻測試配件
	鍍金卡盤
	轉接頭
	探針卡夾具
	其他

公司主營產(chan) 品：

功能材料電學綜合測試係統、絕緣診斷測試係統、高低溫介電溫譜測試儀(yi) 、極化裝置與(yu) 電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱台、鐵電壓電熱釋電測試儀(yi) 、絕緣材料電學性能綜合測試平台、電擊穿強度試驗儀(yi) 、耐電弧試驗儀(yi) 、高壓漏電起痕測試儀(yi) 、衝(chong) 擊電壓試驗儀(yi) 、儲(chu) 能材料電學測控係統、壓電傳(chuan) 感器測控係統。

定製雙麵探針台/I-V測試/晶圓和PCB板測試