半導體封裝材料小型探針台I-V測試係統

產(chan) 品型號：

廠商性質：生產(chan) 廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-11-02

產(chan) 品簡介：

半導體(ti) 封裝材料小型探針台I-V測試係統，小型探針台最大可用於(yu) 6英寸以內(nei) 樣品測試；
可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。

產品特性Product characteristics

品牌	華測

Huace-4S小型探針台

產(chan) 品簡介：

探針台是一種輔助執行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針台載物台（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕，控製前部探針（射頻或直流探針），精準紮到被測點，從(cong) 而使其訊號線與(yu) 外部測試機導通，通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數。

產(chan) 品特點及應用：

◆ 滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等；

◆ 可用於(yu) 6英寸以內(nei) 樣品測試；

◆ 同軸絲(si) 杠傳(chuan) 動結構，線性移動；

◆ 可放置於(yu) 手套箱內(nei) 使用；

◆ 形狀輕巧，操作方便，價(jia) 格實惠。

Huace-4S小型探針台技術參數：

台體(ti) 規格
尺寸	4英寸/6英寸
水平旋轉	可360°旋轉，可微調15°，精度0.1°，帶角度鎖死裝置
X-Y移動行程	4英寸×4英寸
X-Y移動精度	10μm
樣品台Z軸調節	可升降10mm
樣品固定	真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環
針座平台	U型針座平台，**可放置6個(ge) 探針座
背電極測試	樣品台電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極
外形尺寸	400mm長400mm寬500mm高
設備重量	約20KG

光學係統
顯微鏡類型	單筒顯微鏡/體(ti) 式顯微鏡
放大倍率	16X-200X
移動行程	水平方向繞立柱360°旋轉，Z軸50.8毫米
光源	外置LED無極調節亮度環形光源
CCD	200萬(wan) 像素/500萬(wan) 像素/1200萬(wan) 像素

定位器
X-Y-Z移動行程	12mm12mm12mm
移動精度	10μm/2μm/0.7μm/0.5μm
吸附方式	磁力吸附，真空吸附
線纜	同軸線/三軸線
漏電精度	10pA/100fA/10fA
固定探針	彈簧固定/管狀固定
接頭類型	BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
針尖直徑	0.2μm/1μm/2μm/5μm/10μm/20μm
針尖材質	鎢鋼；鈹銅

可選附件：

加熱台；
顯示器；
轉接頭；
射頻測試配件；

屏蔽箱；

光學平台；
鍍金卡盤；
光電測試配件；

探針台可根據客戶要求定製

公司主營產(chan) 品：

幾大係列：功能材料電學綜合測試係統、絕緣診斷測試係統、高低溫介電溫譜測試儀(yi) 、極化裝置與(yu) 電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱台、鐵電壓電熱釋電測試儀(yi) 、絕緣材料電學性能綜合測試平台、電擊穿強度試驗儀(yi) 、耐電弧試驗儀(yi) 、高壓漏電起痕測試儀(yi) 、衝(chong) 擊電壓試驗儀(yi) 、儲(chu) 能材料電學測控係統、壓電傳(chuan) 感器測控係統。

半導體(ti) 封裝材料小型探針台I-V測試係統