華測高溫/低溫介電溫譜/頻譜分析儀

產(chan) 品型號：HCWP係列

廠商性質：生產(chan) 廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-10-10

產(chan) 品簡介：

華測高溫/低溫介電溫譜/頻譜分析儀(yi) ，主要用於(yu) 絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，係統包含高溫爐膛，阻抗分析儀(yi) ，微電流表，夾具，測試軟件於(yu) 一體(ti) ，可測試材料的介電常數，介質損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合係數等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據產(chan) 品及測試項目要求定製。

產品特性Product characteristics

品牌	華測

華測高溫/低溫介電溫譜/頻譜分析儀(yi)

產(chan) 品簡介

公司研發有高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩(liang) 探針夾具，可與(yu) 高溫測試平台配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量係統。
溫度範圍從(cong) 室溫600℃、800℃、1000℃、1200℃，具備PID控製算法，控溫精度可到±1℃，確保溫度控製不超調。提供7種不同控溫方式，滿足客戶多種測試需求。
高溫介電測試夾具根據標準ASTM D150方法，采用平行板電極原理設計。電極由上電極、下電極以及保護電極組成。上下電有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數據可靠。
公司開發的高溫阻抗、介電測量係統軟件將高溫測試平台、高溫測試夾具與(yu) WK6500係列、Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron 1260 LCR測量設備無縫連接,實現了自動完成高溫環境下的阻抗、介電參數的測量與(yu) 分析。另外，還可根據用戶提供的其他LCR品牌或型號完成定製需求。
軟件可根據實驗方案設計，通過測量C和D值，自動完成介電常數和介電損耗隨頻率、電壓、偏壓、溫度、時間多維變化的曲線。一次測量，同時輸出，測量效率高、數據豐(feng) 富多樣。

產(chan) 品特點