伟德bv网页版-高溫介電溫譜測試儀

產(chan) 品型號：HCWP-1000

廠商性質：生產(chan) 廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-06-11

產(chan) 品簡介：

儀(yi) 器簡介：

 伟德bv网页版-高溫介電溫譜測試儀(yi) 主要用於(yu) 絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，係統包含高溫爐膛，阻抗分析儀(yi) ，微電流表，夾具，測試軟件於(yu) 一體(ti) ，可 測試材料的介電常數，介質損耗，阻抗譜 Co-Co 圖， 機電耦合係數等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據產(chan) 品及測試項目要求選購。

 伟德bv网页版-高溫介電溫譜測試儀(yi) 它由硬件設備和測量軟件組成，包括高溫介電測量儀(yi) 主機、高溫介電測量係統軟件、高溫測試夾具、阻抗分析儀(yi) 四個(ge) 組成部分。根據測量需要，還可以外接真空油泵進行真空環境的介電測量。

係統介紹：

係統配置：Acer商用計算機，信號切換與(yu) 控製係統，高溫儀(yi) 及溫控係統，四通道夾具， 測試與(yu) 數據采集軟件；

輸入端口：四個(ge) BNC端口；

輸出端口：10個(ge) SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩定性（頻率大於(yu) 1MHz時）；

溫度範圍：室溫 至850℃（額定溫區，長時間使用溫度），室溫 至1000℃（極限溫區，短時間使用）；

係統屏蔽：通道切換主板預埋屏蔽層設計，連接線材采用射頻同軸線，以保證低頻與(yu) 高頻測試精度和穩定性；

測試夾具：融石英與(yu) 探針複合夾具。其中探針需使用氧化鋁與(yu) 鉑金複合結構，芯層為(wei) 鉑金，絕緣層為(wei) 氧化鋁，屏蔽層為(wei) 鉑金並屏蔽至樣品端。以保證長期高溫測試穩定性；

同時測量樣品數：4個(ge) ；

測試頻率範圍：20Hz至10 MHz(依據配套LCR表或阻抗分析儀(yi) 頻率)，基本度0.05%；

升溫速率：升溫速率0.1-10℃/min，測溫精度±0.1℃

測試樣品直徑：2 mm至25 mm；

樣品厚度：0.02 mm至4 mm；

單樣品測試頻率數：少6個(ge) 頻率測量功能；

變溫介電頻譜測試功能；

變溫阻抗測試功能。