電弱點測試儀器

產(chan) 品型號：HCRD-2

廠商性質：生產(chan) 廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-08-30

產(chan) 品簡介：

HCRD-2型電弱點測試儀(yi) 器采用計算機控製，通過人機對話方式，本產(chan) 品是根據IEC 60674-2:2009 電氣用塑料薄膜第2部分：試驗方法及其第1次修正（2001）和 GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗方法》而設計的高壓試驗裝置。主要用於(yu) 電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點測試。

產品特性Product characteristics

品牌	華測

一、電弱點測試儀(yi) 產(chan) 品簡介：

電弱點測試儀(yi) 儀(yi) 器采用計算機控製，通過人機對話方式。主要用於(yu) 電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點測試。電氣用塑料薄膜的生產(chan) 過程中，會(hui) 出現薄膜穿孔、導電顆粒積聚、劃傷(shang) 等影響電氣性能的電弱點。根據標準《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗方法》，電氣用塑料薄膜要求進行電弱點測試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點（電弱點）數成為(wei) 衡量薄膜成量的重要指標。設計的薄膜電弱點測試儀(yi) ，無須將膜卷分切成小卷，根據薄膜的使用寬度直接進行電弱點測試。由於(yu) 薄膜在生過程中極易引起縱向劃傷(shang) ，該儀(yi) 器引用“電弱線"概念，即在規定的時間內(nei) 檢測到的試樣漏電流均超過1mA時，認定為(wei) 該薄膜試樣在生產(chan) 過程中存在縱向劃痕，從(cong) 而產(chan) 生“電弱線"，測試儀(yi) 統計的電弱點總數為(wei) 電弱點數與(yu) 電弱線數之和。

二、電弱點測試儀(yi) 主要特點:

1、能根據薄膜的使用寬度進行電弱點的測試，測試寬度可根據用戶的要求而設定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結果的影響。

2、測試數據能真實地反映薄膜的質量水平。

3、主要元器件均選用如歐姆龍，美信，ABB等，有效地保證了設備的可靠性、耐用性和穩定性。

4、測量，複現性好。

5、測試過程采用電子技術全自動控製，遇到電弱點時電壓切斷動作迅速。

6、擊穿電流在0～40mA連續可調，複現性好。

7、多重保護功能，充分考慮了操作人員及設備的安全性。

8、過壓、過流、接地保護，試驗平台門開啟保護。

五、儀(yi) 器參數

試驗電壓	0～5000V （AC、DC）	輸入電壓	220V
電壓精度	±1%	有效測量範圍	0～5kV（ACDC）
保護電流	0～40mA	電流精度	±1%
膜移動速度	3-10m/min 連續可調	試樣寬度	60～650mm(可調)
高壓防護	TVS	升壓方式	SPWM
控製係統	嵌入式工控機	控製方式	觸摸屏
功率	1kW	數據傳(chuan) 輸	2個(ge) USB接口
儀(yi) 器尺寸	220 mm x 230 mm x 70 mm	供電方式	220V（50HZ）

1、TVS瞬間抑製防護技術：

采用的光耦隔離方式，但光耦與(yu) 隔離無非是提高儀(yi) 器的采集的抗幹擾處理,對於(yu) 電弧放電過程中的浪湧對控製係統的防護起不到任何作用。華測的TVS瞬間抑製防護技術，將起到對控製係統的防護。

2、低通濾波電流監測技術:

高壓壓放電過程中將產(chan) 生高頻信號。而采集過程中無法將高頻信號處理時，從(cong) 而造成檢測不。無論是采用磁通門或霍爾原理所設計的傳(chuan) 感器存在材料產(chan) 生弱點後後瞬間輸出電壓或電流信號過大，從(cong) 而燒壞控製係統的采集部分。華測開發的電流采集傳(chuan) 感器將高頻雜波信號進行相應處理。

3、雙係統互鎖技術及隔離屏蔽技術：

采用雙係統互鎖技術應用於(yu) 電弱點儀(yi) 器，此儀(yi) 器不僅(jin) 具備過壓、過流保護係統，它雙係統互鎖機製，當任何元器件出現問題或單係統出現故障時，將瞬間切斷高壓，對控製係統防護。

電弱點測試儀(yi) 器