電氣薄膜用50點電極法擊穿試驗儀

產(chan) 品型號：HCJC-50D

廠商性質：生產(chan) 廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-06-06

產(chan) 品簡介：

電氣薄膜用50點電極法擊穿試驗儀(yi) 采用計算機控製，通過人機對話方式，完成對絕緣介質的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗。主要適用於(yu) 固體(ti) 絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維製品、雲(yun) 母及其製品、塑料、薄膜複合製品、陶瓷和玻璃等介質在工頻電壓或直流電壓下擊穿強度和耐電壓時間的測試；

產品特性Product characteristics

品牌	華測

TVS瞬間抑製防護技術

● 多級循環電壓采集技術：

材料擊穿後，瞬間放電速度約為(wei) 光速的1/5～1/3,通用的方法為(wei) 壓降法進行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chan) 生偏差。。

● 低通濾波電流監測技術:

高壓壓放電過程中將產(chan) 生高頻信號。電流采集傳(chuan) 感器，大都為(wei) 工頻電流傳(chuan) 感器。而采集過程中無法將高頻信號處理時，從(cong) 而造成檢測不。無論是采用磁通門或霍爾原理所設計的傳(chuan) 感器存在擊穿後瞬間輸出電壓或電流信號過大，從(cong) 而燒壞控製係統的采集部分。華測開發的低濾波電流采集傳(chuan) 感器將高頻雜波信號進行相應處理。同流采集華測開發的保護模塊來保證采集精度與(yu) 保護采集元件。

● 雙係統互鎖技術及隔離屏蔽技術：

采用雙係統互鎖技術應用於(yu) 電擊穿儀(yi) 器，華測生產(chan) 的電壓擊穿儀(yi) 器不僅(jin) 具備過壓、過流保護係統，它雙係統互鎖機製，當任何元器件出現問題或單係統出現故障時，將瞬間切斷高壓。

● SPWM電子升壓技術

采用SPWM電子升壓技術，這一技術具有升壓速度平穩，精度高。

華測電氣薄膜用50點電極法擊穿試驗儀(yi) 采用計算機控製，試驗過程中可在線觀察試驗曲線;自動存儲(chu) 試驗條件及試驗結果等數據，並可存取、顯示、打印。本試驗機采用立式箱體(ti) 結構，節省試驗室內(nei) 占地空間，地腳采用滑輪結構，方便移動和擺放。

操作更加便捷，更加人性化