伟德bv网页版電化學遷移評價係統問世

伟德bv网页版電化學遷移評價(jia) 係統問世

隨著半導體(ti) 器件小型化的進展，在過於(yu) 苛刻的條件下評估電遷移變得至關(guan) 重要。電遷移評估係統提供基於(yu) 溫度和電流應力（影響器械使用壽命的兩(liang) 個(ge) 主要因素）的準確測量以及用於(yu) 確定判斷器械壽命所需參數的分析軟件。旨在滿足廣泛的評估需求，從(cong) 評估到生產(chan) 管理，提供增強的可操作性、可靠性和簡化的數據分析。

伟德bv网页版作為(wei) 行業(ye) 內(nei) 的突出者，始終秉持著對技術創新的執著追求，憑借深厚的技術積累與(yu) 專(zhuan) 業(ye) 的研發團隊，致力於(yu) 為(wei) 材料電學測試領域提供優(you) 秀的解決(jue) 方案。此次電化學遷移評價(jia) 係統的推出，無疑是伟德bv网页版在該領域的又一重大裏程碑。

性能

240通道評價(jia) 試驗 在單個(ge) 櫥櫃中的3個(ge) 烤箱中

2個(ge) 通道 (DUT) = 1個(ge) 插座

5個(ge) 插座 = 1個(ge) DUT 板

8個(ge) DUT 板 = 1個(ge) 烤箱

3個(ge) 烘箱 = 1個(ge) 櫃

在單個(ge) 烤箱中較多可測試80個(ge) 通道或DUT，使每個(ge) 機櫃有240個(ge) 通道。然而，主機 PC 可以控製多達1200個(ge) 通道或5個(ge) 滿載機櫃。

高精度溫度 控製在350°C以下

該烘箱能夠檢測高達350℃的溫度，並在300℃下提供±3.5℃的高度準確溫度分布。每個(ge) 烘箱均配有獨立的控製器，用於(yu) 單獨的溫度設置。

當前應力應用至200 mA

能夠施加0.1 mA至 200 mA 之間的應力電流。

高度可靠的雙重接觸 板結構

DUT 板和插座連接具有雙觸點結構，以實現更強的固定。該結構設計確保在高溫下進行長期評價(jia) 的可靠性更高。

連接板

引腳分配亂(luan) 序功能使得即使使用具有不同引腳布局的 DUT 也可以評估 ESPEC DUT 板。

四種試驗模式

能夠在強製降解溫度和電流下通過測量電阻進行四種不同的檢測：電遷移、強製降解遷移、溫度特性 (TCR) 和擠壓。