華測儲能電介質充放電係統 升級全新上市

華測Huace-DCS10KV儲(chu) 能電介質充放電係統研發上市

產(chan) 品概述

Huace-DCS10KV電介質充放電測試係統主要用於(yu) 研究介電儲(chu) 能材料高電壓放電性能。目常規的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質的能量密度，測試時，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負載上，通過電滯回線測得的儲(chu) 能密度一般會(hui) 大於(yu) 樣品實際釋放的能量密度，無法正確評估電介質材料的正常放電性能。

華測Huace-DCS10KV儲(chu) 能電介質充放電係統采用門設計的電容放電電路來測量，測試電路如下圖所示。在該電路中，先將介電膜充電到給定電壓，之後通過閉合高速MOS高壓開關(guan) ，存儲(chu) 在電容器膜中的能量被放電到電阻器負載的原理設計開發，更符合電介質充放電原理。

在實際應用中，當電介質或電容器充電後，存儲(chu) 的能量被放電到外部負載，放電過程由負載、電工互連和電容器組成的整個(ge) 電路決(jue) 定，有時甚至電纜的長度變化也會(hui) 強烈的影響放電過程、電壓和電流波形。因此P-E回滯測量的放電條件與(yu) 實際實用中的放電條件明顯不同，並且在實際應用中從(cong) P-E回滯環獲得的能量密度可能偏離（通常高於(yu) ）真實的放電能量密度。

  為(wei) 了評估介電材料在類似於(yu) 現實應用的放電條件下的性能，另一種測試方式用於(yu) 測量介電材料的儲(chu) 能特性。在測量過程中，先將介電材料充電到給定的電壓，然後，將電容器中的存儲(chu) 的能量放電到外部負載，如下圖（1），經測試的介電材料可以建模為(wei) 理想的無損耗電容，與(yu) 電阻串聯，代表介質材料的損耗。很容易看出，當外部負載電阻RL》ESR時，大部分儲(chu) 存的能量將通過ESR（電介質材料tanδ 、電和連接電纜的電阻等）消散，並且來自RL測量的能量密度將遠遠小於(yu) 存儲(chu) 的能量密度（快速放電）。因此，如果RL》ESR，介質電容器的放電效率將取決(jue) 於(yu) 負載條件，並且可以非常高。RL的選 取影響著測試的放電速度。較大的RL意味著較大的RLC常數（C是材料的電容）較慢的放電速度。在測試中，盡管可以固定RL，但是介電材料的電容是可能不是恒定的，因為(wei) 材料介電性能具有場致依賴性。無論怎樣，總是可以使用負載電阻和弱場電容來估算放電速度，並選擇負載電阻進行測試。

產(chan) 品特點：

1、 本係統采用特殊高壓開關(guan) ，通過單刀雙擲控製充電和放電過程，開關(guan) 可以承受10kV高壓，寄生電容小，動作時間短；

2、 電壓10kV，電流5mA；

3、 可外接高壓放大器或高壓直流電源；

4、 通過電流探頭檢測放電電流，可達100A；

5、 可以實現欠阻尼和過阻尼兩(liang) 種測試模式，欠阻尼測試時，放電回路短路，不使用電阻負載，過阻尼測試時，使用較大的無感電阻作為(wei) 放電負載；

6、 可以作為(wei) 一個(ge) 信號源，產(chan) 生任意波形；

7、 通過示波器采集數據，並能直接計算儲(chu) 能密度；

8、 定製載樣平台，可適用於(yu) 陶瓷和薄膜樣品測試；

9、 可以進行變溫測試，RT~200℃；

10、 可以進行疲勞測試；

11、 還可用於(yu) 化材料之用。