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薄膜體積表麵電阻率測量儀的應用和標準配置

日期:2017-07-28瀏覽:2918次

   薄膜體(ti) 積表麵電阻率測量儀(yi)

一、薄膜體(ti) 積表麵電阻率測量儀(yi) 典型應用:
1.測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值
2、測量防靜電材料的電阻及電阻率
3、測量計算機房用活動地板的係統電阻值
4、測量絕緣材料電阻(率)
5、光電二極管暗電流測量
6、物理,光學和材料研究
7、高分子材料表麵體(ti) 積電阻率測定


公司主營產(chan) 品:

幾大係列:先進功能材料電學綜合測試係統、絕緣診斷測試係統、高低溫介電溫譜測試儀(yi) 、極化裝置與(yu) 電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱台、鐵電壓電熱釋電測試儀(yi) 、絕緣材料電學性能綜合測試平台、電擊穿強度試驗儀(yi) 、耐電弧試驗儀(yi) 、高壓漏電起痕測試儀(yi) 、衝(chong) 擊電壓試驗儀(yi) 、儲(chu) 能材料電學測控係統、壓電傳(chuan) 感器測控係統。


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