一款可測量塞貝克係數和電阻（電阻率）的設備？

塞貝克係數電阻測試儀(yi) 測試軟件：

 塞貝克係數電阻測試儀(yi) 采用計算機控製，係統軟件支持windows10/11,能實現自動完成激勵、測量、數據處理並顯示或輸出測試結果,經過專(zhuan) 家和應用工程師的努力，華測開發出這款使用便捷的測量軟件。

• 文本編輯

• 重複測量可少的輸入參數

• 實時測量分析

• 測量曲線比較：多達32條曲線

• 曲線扣除

• 曲線放大縮小

• 一階/二階求導

• 多重峰分析

• 樣品溫度多點校正

• 多種方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）

• 焓變多點校正

• 熱流Cp測量

• 評估結果保存及導出

• ASCII數據導入與(yu) 導出

• 數據生成到MS Excel

• 信號控製測量測序

塞貝克係數電阻測試儀(yi) 技術指標：

產(chan) 品型號：HC-RD-1100

溫度範圍：RT ～ 800/1100/1500℃

測量原理：賽貝克係數：靜態直流法 ； 電阻率：四端法

氣氛：惰性、氧化、還原、真空

樣品支架：三明治結構夾與(yu) 兩(liang) 電極之間

樣品尺寸（圓柱形或棱柱形）：2 至 5 mm（麵寬），23mm φ6mm，23mm

樣品尺寸（圓盤狀）： 10、 12.7、 25.4 mm

可調探頭距離：4、 6、 8 mm

賽貝克係數測量範圍：1 ～ 2500μV/K 準確度±7%；重複性±3%

電導率測量範圍：0.01 ～ 2*10 5 s/cm 準確度±5-8%；再現性±3%

電源：0 ～ 1A，具長期穩定性

電極材料：鎳（-100至500°C）/鉑（-100至+1500°C）

熱電偶：K/S/C型