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高溫介電溫譜測試硬件係統及軟件係統

日期:2023-05-25瀏覽:1125次


高溫介電溫譜測試硬件係統及軟件係統



1,測試硬件係統及軟件係統


        A、測試硬件係統包括寬頻阻抗分析儀(yi) 、高阻計、溫度控製模塊、高壓功率放大器、高、低溫控製裝置、測量夾具線纜、工業(ye) 電腦以及測試係統安放的移動工作台。

         B、阻抗分析儀(yi) :能夠測量材料的電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(D), 品質因數(Q), 阻抗(Z), 導納(Y), 相位角(θ)

         C、可編程直流電源:主要用於(yu) 施加在分接開關(guan) 電壓發生部分。具有,高穩定度,低漂移特點。

        D、高阻計:主要用於(yu) 測量材料的常溫下絕緣電阻及不同溫度下的阻值

        E、溫度控製單元:配合高、低溫環境箱進行實時溫度測量與(yu) 反饋。

        F、高壓功極化電源:主要為(wei) 壓電陶瓷極化提供超低紋波電壓。

        G、高、低溫試驗箱(腔體(ti) ):主要為(wei) 測試材料提供高低溫測試環境裝置;

        H、測試夾具:主要是樣品要通過測量電極(夾具)進行夾持樣品,進行測量;電極材料同時要適應高低溫環境;


I、係統軟件:提供整個(ge) 係統的集中控製,作為(wei) 用戶操作的一個(ge) 用戶接口,選擇不同的測試項目,軟件會(hui) 自動配置測試環境,將各個(ge) 測試儀(yi) 器參數設置 到當前需要測試的值,同時對采集數據進行提取,並對測量的數據進行收集、處理、分析、顯示、並具有報告輸出功能。


1.2  測試係統主要組件及規格:



組件名稱

主要規格

阻抗分析儀(yi)

20HZ-10M

高阻計

·        電阻測量可達10E16 Ω

高溫爐

室溫~1200

高低溫探針台

-180-450



















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