高溫測量鐵電參數測試儀優點

      高溫測量鐵電參數測試儀(yi) 本測試係統采用虛地模式測量電路，與(yu) 傳(chuan) 統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅(jin) 取決(jue) 於(yu) 積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，比較容易定標和，並且能實現較高的測量，它不僅(jin) 能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和化ps、剩餘(yu) 化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞、鐵電保持的測試。能夠測量鐵電薄膜的鐵電。儀(yi) 器采用一體(ti) 化設計，實現測試結果全數字化，操作簡單方便。

高溫測量鐵電參數測試儀(yi) 優(you) 點：

可測量壓電陶瓷居裏溫度、靜態壓電常數

測量壓電材料介電-1KHZ下的介電常數及介質損耗測試

可測量壓電材料積分電荷法熱釋電係數測試

它可測量壓電陶瓷的因數及機電耦合係數

可選配不同的測試裝置進行不同環境下的壓電陶瓷參數測試

本儀(yi) 器可配合高壓放大器實現壓電及鐵電材料的綜合測