薄膜電弱點的結構參數

一、設備結構：

電弱點測試儀(yi) 外形為(wei) 櫃狀一體(ti) 化設計，左側(ce) 為(wei) 走膜及加壓裝置，右側(ce) 為(wei) 控製係統及操作麵板。走膜裝置、絕緣導向輥、速度檢測輥等構成麵積檢測係統；加壓裝置、漏電流采樣電阻等構成電弱點檢測係統。

二、設備參數：

1、試驗電壓：最大6000V

2、有效測量範圍：0-6KV（DC）

3、電壓測量精度：±2%

4、膜移動速度：1-5m/min連續可調

5、保護電流：0~40mA

6、樣品寬度：60~650mm（可調）

7、輸入電壓：220V

8、功率：1KW

三、公司主營產(chan) 品：

      華測幾大係列：介電擊穿強度試驗儀(yi) （電壓擊穿試驗儀(yi) ）、表麵體(ti) 積電阻率測度儀(yi) 、電痕化指數試驗儀(yi) 、耐電弧試驗儀(yi) 、衝(chong) 擊電壓試驗儀(yi) 、萬(wan) 能材料試驗機、薄膜衝(chong) 擊試驗機、落錘式衝(chong) 擊試驗機、馬丁耐熱試驗儀(yi) 、熔體(ti) 流動速率測定儀(yi) 、軟磁交流測試係統、軟磁直流測試係統、納米犬分析測試儀(yi) 、多功能精密電池測試分析儀(yi) 、霍尼韋爾便攜氣體(ti) 檢測儀(yi) 、複合氣體(ti) 檢測儀(yi) 、便攜式氧氣檢測儀(yi) 、臭氧檢測儀(yi) 、防水型二氧化氯檢測儀(yi) 、硫化氫檢測報警器、液化氣檢測報警、電動自行車電池、無線傳(chuan) 感器電池、電動汽車電池、礦燈電池、儲(chu) 能電池等數百個(ge) 產(chan) 品。

 華測其他相關(guan) 產(chan) 品：

可按用戶要求訂製非標產(chan) 品

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