什麽是耐電壓擊穿測試儀

電壓擊穿試驗儀(yi) 在試驗過程中能在線觀察試驗曲線自動存儲(chu) 試驗條件及試驗結果等數據，並可存儲(chu) 、顯示、打印。華測HCDJC係列電壓擊穿試驗儀(yi) 采用計算機控製，人機對話方式完成對絕緣介質的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗，主要適用於(yu) 固體(ti) 絕緣材料（如：矽橡膠、絕緣漆、環氧樹脂、纖維製品、雲(yun) 母及其製品、塑料複合製品、陶瓷和玻璃等）介質在工頻電壓或直流電壓下擊穿強度和耐壓時間的測試。本儀(yi) 器采用立式箱體(ti) 結構，大大的節省試驗室內(nei) 占地空間，地腳采用滑輪結構，方便移動和擺放，，，，。

滿足標準

GB1408.1-2016《絕緣材料電氣強度試驗方法 第1部分；工頻下試驗、第2部分》
GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》
GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》

TVS瞬間抑製防護技術

● 多級循環電壓采集技術： 材料擊穿後，瞬間放電速度約為(wei) 光速的1/5～1/3,通用的方法為(wei) 壓降法進行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chan) 生偏差。。

● 低通濾波電流監測技術: 高壓壓放電過程中將產(chan) 生高頻信號。電流采集傳(chuan) 感器，大都為(wei) 工頻電流傳(chuan) 感器。而采集過程中無法將高頻信號處理時，從(cong) 而造成檢測不。無論是采用磁通門或霍爾原理所設計的傳(chuan) 感器存在擊穿後瞬間輸出電壓或電流信號過大，從(cong) 而燒壞控製係統的采集部分。華測開發的低濾波電流采集傳(chuan) 感器將高頻雜波信號進行相應處理。同流采集華測開發的保護模塊來保證采集精度與(yu) 保護采集元件。

● 雙係統互鎖技術及隔離屏蔽技術： 采用雙係統互鎖技術應用於(yu) 電擊穿儀(yi) 器，華測生產(chan) 的電擊穿儀(yi) 器不僅(jin) 具備過壓、過流保護係統，它*的雙係統互鎖機製，當任何元器件出現問題或單係統出現故障時，將瞬間切斷高壓。

● SPWM電子升壓技術 目前設備大都采用SPWM電子升壓技術，這一技術具有升壓速度平穩，精度高。便於(yu) 維護等優(you) 點是調壓器*的。

華測其它相關(guan) 產(chan) 品：

可按用戶要求訂製非標產(chan) 品

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