熱釋電係數測試儀怎麽做熱釋電係數的測試

　熱釋電係數測試儀基於熱釋電動態電流法設計，由溫度控製器、加熱爐體、微電流放大器、溫度測試儀以及計算機軟件係統組成。溫度控製器控製加熱爐體內部溫度；樣品的電流信號通過微電流放大器、輸入到計算機；而溫度信號則直接通過溫度測試儀傳送到計算機。能測量具有熱釋電性能的單晶、陶瓷、厚膜及薄膜材料樣品，適用範圍廣。

 

　　熱釋電係數可用靜態法、動態法和積分電荷法測試，其中積分電荷法得到廣泛應用。該方法通過測量在電容器上積累的熱釋電電荷，測定剩餘極化隨溫度的變化。使用靜電計測得積分電容兩端電壓，輸出至函數記錄儀Y端，由於積分電容值遠大於試樣電容值，其兩端的電壓變化正比於試樣剩餘極化的變化。同時，用X端記錄試樣溫度變化，可得到熱釋電電荷Q隨溫度T變化的曲線，微分該曲線，就可得到熱釋電係數。

 

　　測試設備的加熱油槽由銅製成，外殼接地以屏蔽外來信號的幹擾，內盛絕緣油，絕緣油應該浸沒試樣架和測溫熱電偶，外加保溫材料。熱電偶的工作溫度範圍為室溫至85℃，溫差電動勢大者為宜。積分電容視試樣電容大小及熱釋電係數大小而定，一般為10μF。直流電阻不小於109Ω。靜電計輸入阻抗不小於1010Ω。函數記錄儀的相對誤差小於或等於1%。整個係統放電時間常數不小於4×103s，相對於采用10μF積分電容而言係統總電阻大於5×108Ω。試樣要求全電極極化試樣，電阻R不小於109Ω，其尺寸為：麵積1cm2，厚度t不小於0.5mm。

 

　　測量時將經清潔幹燥處理的試樣置於樣品架上，浸沒於絕緣油中，試樣與熱電偶應盡可能接近。對油槽加溫，使之按一定速率升溫，並進行記錄。然後，從所得Q-T曲線，求取所需溫度點的曲線斜率，即為該溫度的熱釋電係數。