產品特點:
同步測量塞貝克係數和電阻係數;配置垂直或水平放樣結構,滿足不同用戶的要求,方便樣品操作;鉑金大電極設計,與樣品充分接觸,對於不均勻樣品的溫差控製;高級應用程序控溫技術,包括溫差和測量步進等高級要求;0-50K範圍的溫差可隨意設置溫差及溫差點的個數;自由升降溫,可控製溫度程序,進行升溫恒溫與降溫過程中的數據測量;溫度檢測可選S/C型熱電偶,適合測量Si係列熱電材料(SiGe,MgSi)等;熱電偶探針非K型(無需鎧裝)配置,不會產生大的接觸電阻;
熱電偶電鋸可以根據樣品尺寸調節或固定。滿足不同科研要求;
自動壓力安全保護設計,確保測試過程不會發生爆炸;
測量係統:柱狀,片狀,長方形,薄膜等係統;
可選大測試10MΩ高電阻材料係統;
軟件功能:
HC5000係列測試係統的軟件平台hacepro,采用labiew係統開發,符合導體,半導體材料的各種測試需求,具備穩定性與安全性,並具備斷電資料的保存功能,圖像資料可保存恢複,支持新標準。兼容,XP,win7,win10係統。
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可按用戶要求訂製非標產品
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