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日期:2021-07-22瀏覽:2095次
寬頻介電阻抗譜測試儀(yi) 係統
寬頻介電譜儀(yi) 可以通過與(yu) 寬頻阻抗的完mei結合達到極寬的頻率範圍(20HZ-120M);能靈敏地測量高分子材料介電常數及損耗等參數;具有極寬的阻抗分析範圍(10mΩ~100TΩ);可以測量各種固體(ti) 、薄膜材料。其的全自動在線控製軟件可以實時進行多達不同參數的測量與(yu) 分析。
本儀(yi) 器還可以進行不同溫度範圍的測量,精確溫度控製係統,可以滿足不同電介質材料測量時對溫度範圍和控溫精度的不同要求,配合高低溫測試模塊,用於(yu) 研究電介質材料在高溫條件下的介電性能。
寬頻介電阻抗譜儀(yi) 不僅(jin) 是實驗室開發和研究新材料的重要測量手段,也是生產(chan) 質量控製和優(you) 化生產(chan) 工藝的強有力的工具。寬頻介電阻抗譜儀(yi) 廣泛應用於(yu) 化學、物理化學、電化學、電子、電工工程、材料科學、生物學和製藥等領域,特別是聚合物、樹脂、陶瓷、橡膠、玻璃、液晶、石油及懸浮體(ti) 等材料的研究。
設備單元框圖
寬頻介電阻抗譜儀(yi) 測試係統硬件主要包括阻抗分析儀(yi) 、高阻計、高壓放大器、溫控模塊,高低溫測試環境(測試夾具)、工控電腦、供電及測試線纜構成。
設備測試功能框圖
寬頻介電譜儀(yi) 可實現常溫環境下的介電常數及損耗測量、高低溫環境下的介電溫譜及介電頻譜測量,也可以進行不同溫度下超高阻測量以及TSDC熱激勵電流測量功能。