什麽是四探針法？

四探針法通常用來測量半導體(ti) 的電阻率。四探針法測量電阻率有個(ge) 大的優(you) 點，它不需要較準；有時用其它方法測量電阻率時還用四探針法較準。

與(yu) 四探針法相比，傳(chuan) 統的二探針法更方便些，因為(wei) 它隻需要操作兩(liang) 個(ge) 探針，但是處理二探針法得到的數據卻很複雜。如圖一，電阻兩(liang) 端有兩(liang) 個(ge) 探針接觸，每個(ge) 接觸點既測量電阻兩(liang) 端的電流值，也測量了電阻兩(liang) 端的電壓值。

我們(men) 希望確定所測量的電阻器的電阻值，總電阻值：

RT=V/I=2RW+2RC+RDUT；其中RW是導線電阻，RC是接觸電阻，RDUT所要測量的電阻器的電阻，顯然用這種方法不能確定RDUT的值。矯正的辦法就是使用四點接觸法，即四探針法。如圖二，電流的路徑與(yu) 圖一中相同，但是測量電壓使用的是另外兩(liang) 個(ge) 接觸點。盡管電壓計測量的電壓也包含了導線電壓和接觸電壓，但由於(yu) 電壓計的內(nei) 阻很大，通過電壓計的電流小，因此，導線電壓與(yu) 接觸電壓可以忽略不計，測量的電壓值基本上等於(yu) 電阻器兩(liang) 端的電壓值。

通過采用四探針法取代二探針法，盡管電流所走的路徑是一樣的，但由於(yu) 消除掉了寄生壓降，使得測量變得精que了。四探針法在後來，已經變得十分普及，命名為(wei) 四探針法。

Huace-800高溫四探針測試儀(yi) 器采用四探針雙電測量方法，適用於(yu) 生產(chan) 企業(ye) 、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體(ti) 材料和半導體(ti) 材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀(yi) 器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，並帶有溫度補償(chang) 功能。采用高的精度AD芯片控製，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數據，自動生成報表；本儀(yi) 器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度係數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chan) 品及測試項目要求選購。

雙電測數字式四探針測試儀(yi) 是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀(yi) 器設計符合單晶矽物理測試方法標準並參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩(liang) 次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械遊移等因素對測量結果的影響，它與(yu) 單電測直線或方形四探針相比，大大提高精que度，也可應用於(yu) 產(chan) 品檢測以及新材料電學性能研究等用途。