高溫鐵電測試儀的係統優勢及應用領域一覽-伟德app官网下载安卓版苹果

高溫鐵電測試儀的係統優勢及應用領域一覽

日期：2021-03-19瀏覽：1861次

高溫鐵電測試儀(yi) 可以測量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps、剩餘(yu) 極化Pr、矯頑場Ec、漏電流、疲勞、保持、I-V和開關(guan) 特性等性能的測試，能夠較測量鐵電薄膜的鐵電性能。目前該係統測量溫度800°C,可配置薄膜和塊體(ti) 測量夾具，可廣泛應用於(yu) 薄膜、厚膜和塊狀陶瓷、鐵電器件及存儲(chu) 器等領域的研究。

高溫鐵電測試儀測試係統采用虛地模式測量電路，與傳統的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決於積分器積分電容的精度，減少了對測試的影響環節，比較容易定標和校準，並且能實現較高的測量度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩餘極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數，以及對鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較測量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設計，實現測試結果全數字化，操作簡單方便。

高溫鐵電測試儀應用領域

1.鐵電材料的電滯回線（動態與靜態）、漏電流等特性。

2.測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時的電流響應。

3.超晶格材料在方波脈衝電壓激勵下的自漏電特性。

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