介質的損耗形式

今天來介紹一下什麽(me) 是極化損耗和電離損耗？

當介質產(chan) 生極化時，有幾種極化形式可以引起介質損耗，例如鬆弛極化所造成的介質損耗就比較大，這種損耗發生在偶極子式結構電介質和在離子晶格不緊密的離子結構電介質中，它是由於(yu) 粒子（偶極子或離子）在電場力的影響下克服熱運動引起的。

根據鬆弛極化機製，鬆弛極化建立的時間較長，約為(wei) 10-2-10-3秒，因此極化所造成的電矩往往滯後於(yu) 外加電場，這就是造成損耗的原因。

在電介質兩(liang) 邊加上交變電壓時，如果外加電壓頻率較低，介質中極化都*跟上外電場變化，則由極化引起的極板電荷正比於(yu) 外加電壓的瞬時值。即電壓達大值時，極板電荷也達大值；電壓降為(wei) 零時，極板電荷也變為(wei) 零；電壓反向時，極板電荷也跟著反向。因此外加電壓變化一周時，極板電荷為(wei) 零，*恢複原來狀態，不產(chan) 生極化損耗。

當外加電壓頻率較高時（即鬆弛極化建立的時間大於(yu) 外加電壓變化周期四分之一），極化跟不上電場變化，即電壓達到大值時，極化尚未*建立，有極化引起的極板電荷也未達到大值，外加電壓開始減小時，極化仍然繼續增大至大值後才減小。極板電荷也是這樣，當電壓降至零時，極化尚未*消除，極板電荷不能降至零，仍然遺留有部分電荷，當外電場反向時，基板上遺留的部分電荷中和了電源對極板充電的部分電荷，並以熱的形式發出，於(yu) 是產(chan) 生了能量損耗。

電離損耗的介紹如下：

電離損耗（又稱遊離損耗）是由氣體(ti) 所引起的，含有氣孔的固體(ti) 介質在外加電場強度超過了氣孔氣體(ti) 電離所需要的電場強度時，由於(yu) 氣體(ti) 的電離吸收能量而造成損耗，這種損耗成為(wei) 電離損耗。

   電離損耗的功率可以用於(yu) 下式近似計算

P=Af(V-V0)2            (4.2-65)

式中，A為(wei) 常數；f為(wei) 頻率；V為(wei) 外施電壓；V0為(wei) 氣孔內(nei) 氣體(ti) 的電離電壓。

上式隻有當V＞V0才適用。當外電壓超過V0時，隨著外電場電壓的增加，介質的損耗急劇增大，利用這一特點，我們(men) 可以判斷介質是否含有氣孔。