差熱分析儀的基本原理

差熱分析儀(yi) 的簡圖如圖4.1-7所示。處在加熱爐和均熱塊內(nei) 的試樣和參比物在相同的條件下加熱或冷卻。爐溫的程序控製由控溫熱電偶監控。試樣和參比物之間的溫差通常用對接的兩(liang) 支熱電偶進行測定。熱電偶的兩(liang) 個(ge) 接點分別與(yu) 盛裝試樣和參比物的坩底部接觸，或者分別直接插入試樣和參比物中。由於(yu) 熱電偶的電動勢與(yu) 試樣和參比物之間的溫差成正比，溫差電動勢經放大後由X-Y記錄儀(yi) 直接把試樣和參比物之間的溫差△T記錄下來。在此同時，X-Y記錄儀(yi) 也記錄下試樣的溫度（或時間t），這樣就可獲得差熱分析曲線即△T-T(t)圖。應注意，在測定時所采用的參比物應是惰性材料，即在測定的條件下不產(chan) 生任何熱效應的材料。

圖4.1-7 DTA儀(yi) 簡圖

（a)1-測量係統；2-加熱爐；3-溫度程序控製器；4-記錄儀(yi)

（b）1-測量係統；2-加熱器；3-均熱塊；4-訊號放大器；5-量程控製器；

   6-記錄儀(yi) ；”7-溫度程序控製器

   試樣和參比物在相同條件下加熱或冷卻，如果試樣不產(chan) 生任何熱效應，試樣溫度Ts應與(yu) 參比物溫度Tr相等，即T=Ts-Tr=0,X-Y記錄儀(yi) 不指示任何差示電動勢。如果試樣發生響應熱或放熱效應，這時△T=Ts-Tr ,表示電動勢小於(yu) 或大於(yu) 零，在X-Y記錄儀(yi) 上可得到△T=f(T)的差熱曲線。由於(yu) 現代差熱分析儀(yi) 的檢測靈敏度是很高的，所以它能檢測試樣中所發生的各種物理和化學變化，如晶型的變化、比熱容、相變和分解反應等。